88812406 info@bkgco.com
bkgco.com bkgco.com
عضویت
  • فارسی
منو
bkgco.com
  • خانه
  • محصولات
    • دستگاه اندازه گیری جذب به روش حجم سنجی
      • اندازه گیری مساحت سطح و توزیع حفرات
      • اندازه گیری ظرفیت ذخیره سازی گازها
      • اندازه گیری دانسیته
    • دستگاه اندازه گیری جذب به روش جریان سیال دینامیک
      • جذب فیزیکی
      • جذب شیمیایی
    • دستگاه اندازه گیری جذب به روش وزن سنجی
      • اندازه گیری جذب گاز / بخارات به روش وزن سنجی
      • اندازه گیری جذب بخارات به روش دینامیکی
    • سیستم های آنالیز دستگاهی
      • میکروسکوپ الکترونی (SEM)
      • طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
        • XRF1
        • SRF2
    • دستگاه های اندازه گیری سطح
      • اندازه گیری کشش سطحی
      • اندازه گیری زاویه سطح تماس
      • اندازه گیری رسانایی گرمایی
    • آنالیز پیوسته آب
      • اندازه گیری سختی آب
      • اندازه گیری هیدروکربن های نفتی
      • تشخیص لکه های نفتی
    • دستگاه آنالیز Breakthrough
    • راکتور تست نفوذ گاز
  • خدمات
    • بخش فنی
    • بخش آموزش
    • درخواست خدمات
  • خبرنامه
  • درباره ما
    • معرفی شرکت
    • تاریخچه
    • نمایندگی ها
    • افتخارات
      • رضایت نامه
      • گواهی ها
    • گالری عکس
  • تماس با ما
    • نظرات و پیشنهادات
    • اطلاعات تماس
    • همکاری با ما
خانه سیستم های آنالیز دستگاهی طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF) طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
میکروسکوپ الکترونی روبشی رومیزی مدل آلفا
بازگشت به محصولات
اندازه گیری سطح ویژه و تخلخل سنجی BET
BELSORP -MiniX
بزرگنمایی تصویر

طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)

آنالیزور جیوه زیمان RA-915F  (ZEEMAN MERCURY ANALYZER RA-915F)

شرح مختصر

روش های اندازه گیری:

طیف سنجی جذب اتمی در 254 نانومتر با تصحیح زیمن برای جذب پس زمینه به منظوراندازه گیری بدون تداخل

طرز کار

تجزیه حرارتی مستقیم نمونه و سپس اندازه‌گیری جذب تشعشعات تشدید شده در طول موج 254 نانومتری توسط اتم‌های جیوه با استفاده از تصحیح زیمن برای جذب پس‌زمینه.

 

مقایسه
افزودن به علاقه مندی
دسته: محصولات, سیستم های آنالیز دستگاهی, طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
اشتراک گذاری:
بستن
  • توضیحات
  • مزایای محصول
  • کاربردها
  • لینک سایت مرجع
  • کاتالوگ
  • نظرات (0)
توضیحات

Technical Data

Detection limit 0.5–3 ?g/kg
Ladles volume 1.2 / 2.5 mL
Upper limit of the measurement range of concentration for a 20 mg sample 2000 mg/kg
Analysis time 1–5 min
Power supply 110–242 VAC, 50/60 Hz
MEASUREMENT UNIT
Dimensions (LxWxH) 175x110x235 mm
Weight 4.0 kg
SAMPLING UNIT
Dimensions of power supply unit (LxWxH) 380x260x130 mm
Weight of power supply unit 10 kg
Dimensions of thermal chamber unit and optical unit (LxWxH) 350x350x120 mm
Weight of thermal chamber unit and optical unit 7.5 kg

مزایای محصول

مزایای محصول

ویژگی ها و مزایا

  • تشخیص جیوه در نمونه های با ماتریس های پیچیده
  • بالاترین گزینش پذیری
  • بدون نیاز به روش های آلودگی زدایی از قبل
  • محدوده اندازه گیری دینامیکی وسیع : > 5 مرتبه بزرگی
  • کنترل تنظیم دما به صورت خودکار برای افزایش محدوده دینامیکی
  • بدون اثر حافظه
  • قابلیت ترموسکن(Thermoscanning )
  • رابط کامپیوتری که کار با آن توسط کاربر آسان است.
  • ثبات کالیبراسیون بالا
  • نیازی به گاز حامل نیست
کاربردها

کاربردها

کاربردها

  • تعیین غلظت جیوه در نمونه های جامد و مایع، مانند:
  • مواد غذایی و مواد بیولوژیکی
  • نفت خام و نفتا
  • زغال سنگ، خاکستر، گچ
  • تله جاذب USEPA 30B، PS12B و CEN/TS 17286
  • نمونه برداری از هوا.
  • فاضلاب و لجن
  • خاک و رسوبات
لینک سایت مرجع

لینک سایت مرجع

ورود به سایت 

کاتالوگ

کاتالوگ

کاتالوگ محصول ra915_f

گاتالوگ کلی محصولات 

نظرات (0)

نقد و بررسی‌ها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)” لغو پاسخ

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

محصولات مرتبط

مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

Standard Model DST-60

اطلاعات بیشتر
ویژه
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

IGA Series اندازه‌گیری جدب گاز/ بخارات به روش وزن سنجی

اطلاعات بیشتر
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

آنالیزورهیدروکربن‌های نفتی AE-2

اطلاعات بیشتر
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

BELSORP-MR1

اطلاعات بیشتر
ویژه
XEMIS Series
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

XEMIS-001

اطلاعات بیشتر
ویژه
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

DCA-200 اندازه‌گیری کشش سطحی

اطلاعات بیشتر
ویژه
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

XEMIS Series

اطلاعات بیشتر
مقایسه
مشاهده سریع
افزودن به علاقه مندی

دستگاه رسانش گرمایی SEO TCD-100

اطلاعات بیشتر
Latest News :
  • ششمین نمایشگاه بین المللی فارمکس خاورمیانه 2024
  • کارگاه آموزشی – بررسی جذب فیزیکی و شیمیایی سطح مواد نانو ساختار و کاتالیست ها – چهارشنبه 9 اسفند 1402
  • ششمین نمایشگاه بین المللی مواد و صنایع شیمیایی، تجهیزات و خدمات آزمایشگاهی – 30 آبان لغایت 3 آذر 1402
  • چهاردهمین نمایشگاه فناوری نانو — 13 تا 16 آبان 1402
  • هشتمین کنفرانس زئولیت — 28 و 29 شهریور 1402
اطلاعات تماس

نشانی: تهران، خیابان سمیه، بعد از تقاطع بهار، بن بست خوانساری، پلاک 6، واحد 8.
شماره تماس:
88812406 (021)
88310269 (021)
فاکس: 88327989 (021)

ایمیل شرکت:

info@bkgco.com

Facebook Twitter Youtube Instagram
شرکت بهینه کالا گستر:

طراحی شده توسط شرکت آرسااپ

  • خانه
  • محصولات
    • دستگاه اندازه گیری جذب به روش حجم سنجی
      • اندازه گیری مساحت سطح و توزیع حفرات
      • اندازه گیری ظرفیت ذخیره سازی گازها
      • اندازه گیری دانسیته
    • دستگاه اندازه گیری جذب به روش جریان سیال دینامیک
      • جذب فیزیکی
      • جذب شیمیایی
    • دستگاه اندازه گیری جذب به روش وزن سنجی
      • اندازه گیری جذب گاز / بخارات به روش وزن سنجی
      • اندازه گیری جذب بخارات به روش دینامیکی
    • سیستم های آنالیز دستگاهی
      • میکروسکوپ الکترونی (SEM)
      • طیف سنج فلورسانس اشعه ایکس (XRF)
        • XRF1
        • SRF2
    • دستگاه های اندازه گیری سطح
      • اندازه گیری کشش سطحی
      • اندازه گیری زاویه سطح تماس
      • اندازه گیری رسانایی گرمایی
    • آنالیز پیوسته آب
      • اندازه گیری سختی آب
      • اندازه گیری هیدروکربن های نفتی
      • تشخیص لکه های نفتی
    • دستگاه آنالیز Breakthrough
    • راکتور تست نفوذ گاز
  • خدمات
    • بخش فنی
    • بخش آموزش
    • درخواست خدمات
  • خبرنامه
  • درباره ما
    • معرفی شرکت
    • تاریخچه
    • نمایندگی ها
    • افتخارات
      • رضایت نامه
      • گواهی ها
    • گالری عکس
  • تماس با ما
    • نظرات و پیشنهادات
    • اطلاعات تماس
    • همکاری با ما